產品服務
SmtCell
功能強大的參數化單元版圖設計工具 在設計SPICE/Reliability/RF/Process/Yield相關測試結構單元版圖時，獲得至少10倍的效率增益。
TCMagic
通用型的測試晶片版圖自動化設計平台，為客戶在製程開發各階段的測試晶片設計提供完整且有效率的解決方案。
AT Compiler
可尋址測試晶片版圖自動化設計平台，滿足積體電路製程開發與製造流程監控的需求。
DFTEXP
提供領先的可測性設計自動化和成品率解決方案，輕鬆應對業界複雜的SoC晶片的量產測試、成品率提升的挑戰。
CMPEXP
高效CMP建模與模擬工具，可保障晶片的可製造性與成品率，解決產業痛點。
ICSpider
產品晶片成品率和性能診斷的客製化測試晶片設計工具。
Dense Array
基於超高密度測試晶片設計及快速測試技術的版圖自動化設計軟體，滿足製程開發下百萬分率、甚至十億分率的異常點檢測的需求。
DataExp
結合「快捷報表瀏覽」與「靈活深入分析」於一體的分析平台，能有效幫助半導體企業發揮數據價值，提升成品率與提升產品效能。
晶圓級電參數測試設備
在積體電路的產品開發、製程製造和產品驗證過程中，對電性參數測試的需求日益提高， ALLCHAIN 經過十餘年，自主研發高效電性參數測試設備和解決方案，已成功進入國內外多家領先的晶片設計類(Fabless)企業、代工製造類(Foundry)企業、垂直整合製造類(IDM)企業和研發實驗室(R&D Lab)，協助完成多種測試任務，並且高效、精確地提取裝置和製程相關的電性參數，實現以數據驅動晶片產品的功耗-性能-面積-成本(PPAC) 優化、可靠性以及成品率提升。
